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Espectrómetros para revestimientos
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{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... La serie TM4000 ofrece múltiples sistemas EDS entre los que elegir en función de la aplicación y el presupuesto. Todos los detectores ofrecidos tienen un diseño compacto y no requieren LN2. *: Ejemplo de configuración de Quantax75 EDS ...
... La serie AZtec ofrece múltiples sistemas EDS entre los que elegir en función de la aplicación y el presupuesto. Los detectores de alto rendimiento con una resolución energética de 129 eV (Mn-Ka) están disponibles en todas las clases. - ...
... Le invitamos a nuestro evento especial centrado en Epsilon Xline, nuestra innovación en fluorescencia de rayos X en línea que revolucionará el uso de materiales, la rentabilidad y la calidad del producto en la producción de rollo a rollo. En ...
Largo: 22 cm
Ancho: 9,1 cm
Alto: 27,6 cm
... HELIUS es el primero de la serie de espectrómetros portátiles XRF de ARUN. Gracias a la tecnología de análisis por fluorescencia de rayos X, este instrumento de tamaño medio analiza productos de diversos materiales de ...
Medidor por fluorescencia de rayos X para las máximas exigencias, con mesa X/Y programable y eje Z para la medición automática de capas muy finas y para el análisis de trazas
HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Medidor por fluorescencia de rayos X con óptica de rayos X policapilar para la medición y el análisis automáticos de espesores y composiciones de recubrimientos en los componentes y estructuras más pequeños.
HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
• Análisis de baños galvánicos y medición del espesor del recubrimiento con fluorescencia de rayos X según DIN ISO 3497 y ASTM B 568 • El punto de medición más pequeño con el XULM & nbsp; aprox. 0,1 mm; punto de medición ...
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