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Resolución espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm
... análisis elemental (EDS) y diffracción (EBSD). La tecnología ChemiSEM de Thermo Scientific integra las funciones de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) directamente en la interfaz de usuario del microscopio, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El microscopio ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Microscopio electrónico de barrido ambiental (ESEM) para el estudio de materiales en estado natural. Microscopio electrónico de barrido ambiental Quattro El microscopio electrónico de ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm
... estas tecnologías significa que los usuarios que se inician en la microscopía electrónica pueden acceder al rendimiento de alta gama del SEM Apreo 2. Además, el Apreo 2 SEM es el único ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 515, 1.030 nm
... el fresado por haz de iones focalizado en plasma con la ablación por láser de femtosegundo y la obtención de imágenes SEM (microscopía electrónica de barrido). Esta combinación "TriBeam" permite obtener ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Peso: 5 kg
... Microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado para la preparación de muestras de alta calidad y caracterización en 3D de muy alta resolución. El Scios 2 DualBeam de Thermo Scientific es un sistema analítico ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 3, 4, 7 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,8 nm - 1.200 nm
Peso: 950 kg
... CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas funciones. Diseño de columna avanzado, tecnología de túnel de alto voltaje (SuperTunnel), ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño de lente magnética ...
CIQTEK Co., Ltd.
microscopio electrónico de barridoSEM2100
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm
... El SEM2100 es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno fácil de usar y accesible, diseñado para usuarios principiantes. Presenta un proceso operativo simplificado y se adhiere a los estándares ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg
CIQTEK SEM5000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) de resolución ultraalta con una resolución innovadora de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Al beneficiarse del proceso de ingeniería ...
CIQTEK Co., Ltd.
Resolución espacial: 3, 0,9, 1,6 nm
CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... El SEM4000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) estable, versátil, flexible y eficaz. Alcanza una resolución de 1.9nm@1.0kV, con lo que afronta fácilmente los retos de la obtención de ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 20 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 4, 1,6, 1,2 nm
... mediante FIB, pueden realizarse observaciones SEM de alta resolución y análisis rápidos utilizando espectroscopia de rayos X por dispersión de energía (EDS) y difracción de electrones retrodispersados (EBSD). ...
Jeol
Aumento: 10 unit - 5.480.000 unit
Resolución espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energía (EDS) JEOL totalmente integrado, como plataforma común. El JSM-IT800 permite la sustitución de la lente objetivo del SEM como un módulo, ofreciendo diferentes versiones para satisfacer los requisitos de varios ...
Jeol
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