Microscopios de electrones secundarios

Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 2, 10, 3 nm

... Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo de sobremesa para obtener imágenes de alta calidad en todas las disciplinas. Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm

... Aplicaciones del SEM de sobremesa Phenom XL G2 El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G2 de última generación automatiza su proceso de control de calidad, ...

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... Desktop SEM para un análisis SEM robusto y sin esfuerzo, ampliando su capacidad de investigación. MEB de sobremesa Phenom Pro La sexta generación del SEM de sobremesa Thermo Scientific ...

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... SEM de sobremesa con capacidad EDS para un análisis elemental y SEM robusto, sin esfuerzo y versátil. MEB de sobremesa Phenom con difracción de rayos X de energía dispersiva La sexta generación del SEM ...

Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm

... Personalice su SEM El SEM de sobremesa Phenom Pure puede equiparse con dos sistemas detectores opcionales. El primero es un sistema de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) totalmente integrado. ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm

... necesitan imágenes SEM de alta resolución con análisis EDS para química. Cuando está totalmente automatizada, esta combinación es una potente herramienta para la inspección de la calidad del polvo. Principales características ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm

... 16232 o ISO 4406/4407. Detector de electrones secundarios El SEM de sobremesa Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) dispone opcionalmente de un detector de electrones ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 10 nm

... SEM de sobremesa para análisis de fabricación aditiva, capaz de observar muestras grandes de hasta 100 mm x 100 mm. Análisis de fabricación aditiva El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa ...

Resolución espacial: 7, 3 nm
Peso: 5 kg

... Microscopio electrónico de barrido para investigación y desarrollo industrial con capacidad de microscopio electrónico de barrido ambiental. Microscopio electrónico de barrido ambiental El ...

Resolución espacial: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Peso: 5 kg

... y el análisis 3D avanzado de alta resolución a escala nanométrica. Imágenes de electrones retrodispersados y de electrones secundarios La innovadora columna de electrones ...

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro de un hueco ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos de Hitachi. Esta revolucionaria ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... y de detección de electrones de nuevo diseño permite la adquisición simultánea y eficaz de múltiples señales de electrones secundarios y de electrones retrodispersados. Imágenes ...

Resolución espacial: 1,2 nm

... modo de alto vacío y el de presión variable. EM Wizard es un sistema basado en el conocimiento para la obtención de imágenes SEM que va más allá de las condiciones básicas preestablecidas y las recetas. Su facilidad de ...

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones ...

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 5, 15 nm

... anteriormente sólo estaba disponible en un SEM de tamaño completo. Este microscopio electrónico de barrido funciona con energía limpia para obtener una herramienta analítica económica, sin comprometer ...

Aumento: 10 unit - 25.000.054 unit
Peso: 54 kg
Largo: 614, 617 mm

... serie TM4000 presenta innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de mesa. Esta nueva generación de microscopios de sobremesa Hitachi (TM) de larga tradición ...

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... automatizado - Cañón de electrones FE en frío (Cold FEG) de alto brillo y alta estabilidad - Columna y fuentes de alimentación ultraestables para mejorar el rendimiento del instrumento - Capacidad de obtención simultánea ...

Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,8 nm - 1.200 nm
Peso: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas funciones. Diseño de columna avanzado, tecnología de túnel de alto voltaje (SuperTunnel), ...

Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm

... El SEM2100 es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno fácil de usar y accesible, diseñado para usuarios principiantes. Presenta un proceso operativo simplificado y se adhiere a los estándares ...

Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg

CIQTEK SEM5000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) de resolución ultraalta con una resolución innovadora de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. Al beneficiarse del proceso de ingeniería ...

Resolución espacial: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración ...

Aumento: 1 unit - 300.000 unit
Resolución espacial: 2,5 nm - 5 nm
Largo: 926 mm

... aceleración：0,1 kV~ 30 kV 4."Supertúnel"：Tecnología de óptica de electrones 5.Imágenes de alta resolución y bajo voltaje：Gracias a la tecnología de desaceleración del haz de la columna óptica de electrones 6.Lente ...

Aumento: 66 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 1,3 nm
Largo: 1.716 mm

... Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para la obtención de imágenes a escala transversal de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 cuenta con tecnologías como el cañón de electrones de ...

Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... bajo voltaje. El microscopio utiliza tecnología multidetector, con un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE al tiempo que proporciona un rendimiento de alta resolución. El ...

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV es un microscopio central NV de barrido basado en un centro de vacantes de nitrógeno de diamante (centro NV) y tecnología de imágenes magnéticas de barrido AFM. Las propiedades magnéticas de ...