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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 2, 10, 3 nm
... Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo de sobremesa para obtener imágenes de alta calidad en todas las disciplinas. Microscopio electrónico ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,3 nm - 1,5 nm
Peso: 500 g
... Preparación de muestras para imágenes TEM y STEM o tomografía por sonda atómica. Fácil de usar con automatización avanzada. Capaz de realizar una caracterización 3D del subsuelo de alta calidad. Preparación ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10.000 nm
... SEM de sobremesa que permite la fabricación de acero de alta calidad mediante el análisis de fallos y la mejora de los procesos. Los metalúrgicos e investigadores en la fabricación de acero necesitan datos de microscopía ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... muestra de entrada lateral ultraestable similar a los sistemas TEM de gama alta e incorpora una amortiguación de vibraciones optimizada y una cabina cerrada para proteger la óptica electrónica del ruido ambiental. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 trae una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío de ultra alta resolución a la línea de EM de Hitachi de larga data. Esta revolucionaria plataforma CFE-SEM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla que resulta atractiva tanto para los usuarios experimentados ...
... análisis FIB-SEM. Maximice su información de SEM Obtenga información auténtica de la muestra de sus imágenes SEM de alta resolución usando la óptica de electrones Gemini. Confíe en el rendimiento ...
... MICROSCOPIO DIGITAL PARA MEDICIONES AUTOMÁTICAS DE BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscopio electrónico para la medición automática de la indentación Brinell con una bola ...
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 3, 4, 7 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,8 nm - 1.200 nm
Peso: 950 kg
... CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas funciones. Diseño de columna avanzado, tecnología de túnel de alto ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño ...
CIQTEK Co., Ltd.
... obtener imágenes de alta calidad mediante operaciones sencillas, incluso para quienes nunca antes han utilizado un microscopio electrónico. Características Alto rendimiento -Aumento de la productividad ...
Jeol
Aumento: 50 unit
Peso: 45 kg
... Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas ...
Resolución espacial: 20 nm
... Microscopía sensible a la superficie 20 nm Resolución lateral Espectroscopia local imágenes k-Space Fácil de operar Compatible con sistemas MULTIPROBE UHV Un producto FOCUS La Microscopía Electrónica ...
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 3 nm
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