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Microscopios electrónicos de barrido
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Resolución espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm
... Scientific integra las funciones de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) directamente en la interfaz de usuario del microscopio, lo que simplifica el análisis y ayuda a obtener resultados fiables con un sesgo mínimo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm
... Aplicaciones del SEM de sobremesa Phenom XL G2 El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G2 de última generación automatiza ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm
... Desktop SEM para un análisis SEM robusto y sin esfuerzo, ampliando su capacidad de investigación. MEB de sobremesa Phenom Pro La sexta generación del SEM de sobremesa Thermo Scientific ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE


microscopio electrónico de barridoSU3800/3900 Family
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm
... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera ...

Aumento: 10 unit - 250.000 unit
... Diseñado como una extensión lógica de la microscopía óptica estereoscópica, el TM4000 III es un dispositivo básico para la microscopía electrónica de barrido. Permite ...

Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla que resulta atractiva tanto para los ...

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de ...


microscopio electrónico de barridoSEM2100
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm
... Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM2100 Óptica de electrones Resolución: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm @ 20 kV, BSE Tensión de aceleración: 0,5 kV ~ 30 kV Aumento (Polaroid): ...

Aumento: 1 unit - 300.000 unit
Resolución espacial: 2,5 nm - 5 nm
Largo: 926 mm
... Opcional) Funciones Automáticas: Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático El microscopio electrónico de barrido (SEM) CIQTEK SEM3300 incorpora tecnologías ...


microscopio electrónico de barridoJSM-IT710HR
... Una visibilidad clara fomenta nuevos descubrimientos Hoy en día, no sólo se considera importante la resolución y el rendimiento analítico en el orden nanométrico, sino también el rendimiento en la adquisición de datos. El recién nacido ...
Jeol

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de 4ta generación VEGA de TESCAN con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM con análisis de composición ...
Tescan GmbH

... documentación de la superficie de un componente para revelar irregularidades. Microscopio electrónico de barrido | SEM | Micrófono | Herramientas CNC Un Microscopio ...


Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 3 nm
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