Microscopios in-situ

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microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SU7000

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... gama de accesorios. Estos accesorios incluyen detectores analíticos o accesorios de platina para la manipulación de muestras in situ (estiramiento [tracción] / compresión, calentamiento/enfriamiento, ...

microscopio STEM
microscopio STEM
HF5000

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en un SEM. Esto resulta especialmente ...

microscopio electrónico de transmisión
microscopio electrónico de transmisión
HT7800 Series

Aumento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolución espacial: 0,2, 0,14, 0,19 nm

... La familia HT7800 admite una amplia gama de aplicaciones, desde las ciencias de la vida hasta la ciencia de materiales. Está disponible en tres variantes diferentes de pieza polar, siempre basadas en nuestra lente objetiva patentada para ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
Quattro ESEM

Resolución espacial: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... su clase para la obtención de imágenes in situ, experimentos dinámicos con excelentes capacidades analíticas El Quattro ESEM es una plataforma muy flexible para experimentos dinámicos in ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio SEM
microscopio SEM
Volumescope 2

Resolución espacial: 1, 0,8, 0,7 nm
Ancho: 340 mm

... materiales blandos. El microscopio electrónico de barrido en serie (SBF-SEM) combina el seccionamiento y la obtención de imágenes in situ de bloques de tejido incrustados en plástico ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio FIB/SEM
microscopio FIB/SEM
Helios 5

Resolución espacial: 515, 1.030 nm

... láser de femtosegundo y la obtención de imágenes SEM (microscopía electrónica de barrido). Esta combinación "TriBeam" permite obtener imágenes y análisis de alta resolución con capacidad de ablación in ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SEM3200

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 3, 4, 7 nm
Peso: 480 kg

CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene excelentes capacidades de calidad de imagen tanto en modo de alto como de bajo vacío. También tiene una gran ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SEM5000Pro

Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas funciones. Diseño de columna avanzado, tecnología de túnel de alto voltaje (SuperTunnel), ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SEM2100

Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 4,5, 3,9 nm

... El SEM2100 es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno fácil de usar y accesible, diseñado para usuarios principiantes. Presenta un proceso operativo simplificado y se adhiere a los estándares ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscopio digital
microscopio digital
IM•profile M

Resolución espacial: 200 nm
Peso: 1 kg

... X-Y-Z-Phi exclusivamente compacta para posicionar la muestra de Ciencias de la Vida - Medicina fácilmente. Se trata de un microscopio digital inverso USB/GigE ultra compacto con condensador optimizado y LED de luz transmitida. ...

microscopio metalográfico
microscopio metalográfico
MOBISCOPE

Aumento: 100 unit - 500 unit
Largo: 160 mm

... , etc. La metalografía in situ permite una rápida evaluación in situ de un componente. Existen numerosas ventajas en el uso de la metalografía in-situ/de ...

microscopio de sonda de barrido
microscopio de sonda de barrido
TESLA JT SPM

... incluyendo STM, NC-AFM (QPlus®) y varios modos de espectroscopia incluyendo STS, IETS y espectroscopia de fuerza. La punta in situ y el intercambio de muestras, incluidos cuatro contactos eléctricos con ...

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Scienta Omicron
microscopio Raman
microscopio Raman
RamMics M532/785

Resolución espacial: 532, 785 nm

... de materiales. Gracias a su diseño compacto y a su portabilidad, el RamMics M532/785 garantiza resultados de alta calidad in situ con un gasto mínimo y resulta ser una herramienta realmente indispensable ...

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