Microscopios inspección de acero

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microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
SEM, FIB, BIB, TEM

Aumento: 5 unit - 600.000 unit
Resolución espacial: 2,5, 0,9 nm

... Los SEM Hitachi SU3800SE y SU3900SE proporcionan soluciones versátiles de captura de imágenes y análisis para diversas aplicaciones. Estos instrumentos ofrecen imágenes de alta resolución, navegación intuitiva y automatización ...

microscopio SEM
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Phenom XL G2

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm

... Aplicaciones del SEM de sobremesa Phenom XL G2 El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G2 de última generación automatiza su proceso de control de calidad, ...

microscopio inspección de acero
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Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10.000 nm

... Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM es un SEM de sobremesa polivalente que permite el análisis de fallos y la caracterización automatizada de inclusiones no metálicas en el ...

microscopio AFM
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Nanite

... La morfología de la superficie es una propiedad importante para muchas superficies de alta tecnología con características tan pequeñas como unos pocos nanómetros y rugosidad superficial inferior a un nanómetro. Nanite es la herramienta ...

microscopio metalográfico
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DS series

... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales ...

microscopio metalúrgico
microscopio metalúrgico
ECLIPSE MA200

Aumento: 1 unit - 100 unit
Peso: 26 kg
Largo: 295 mm

... al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en una solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE MA200 Microscopio invertido ...

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