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Resolución espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Ancho: 340 mm
... Scientific integra las funciones de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) directamente en la interfaz de usuario del microscopio, lo que simplifica el análisis y ayuda a obtener resultados fiables con un sesgo mínimo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El microscopio ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Microscopio electrónico de barrido ambiental (ESEM) para el estudio de materiales en estado natural. Microscopio electrónico de barrido ambiental Quattro El microscopio electrónico de ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... El HF5000 es un S/TEM con corrección de Cs personalizable para experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en ...
Aumento: 40 unit - 800 unit
Microscopio metalúrgico MBL3300 para la identificación y el análisis de toda clase de uniones de metal y acero. Ideal para la determinación de la calidad, el análisis de materias primas y controles de estructuras de metal ...
Aumento: 10 unit - 220 unit
El Dino-Lite AM73915MZT forma parte de la gama de Alta Velocidad Tiempo Real con conexión USB 3.0. Este modelo brinda una calidad de imagen sin comprimir superior y una reproducción de colores magnífica en una carcasa metálica resistente, ...
Aumento: 10 unit - 140 unit
El Dino-Lite AM73915MZTL es un modelo de distancia larga de trabajo que forma parte del rango de alta velocidad en tiempo real con conexión USB 3.0. Este modelo brinda una calidad de imagen sin comprimir superior y una reproducción de ...
Aumento: 40, 20 unit
... ● Un tipo de instrumento de metrología óptica, con las características de estructura simple, operación conveniente y amplia aplicabilidad. Iluminación ● Mida la distancia del agujero, la anchura del surco, la anchura ...
... UHR SEM para la caracterización de nanomateriales a escala sub-nanométrica - Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales de próxima generación (por ejemplo, estructuras de catalizadores, nanotubos, nanopartículas ...
Aumento: 2 unit - 200 unit
... MZM 1 - Macro - Microscopio con Zoom Macro - Microscopio zoom para sus tareas de medición Para un cambio continuo en aumentos menores, nuestro microscopio MZM 1 con una relación de zoom ...
Resolución espacial: 0,15, 0,02 nm
Peso: 2.720 kg
Largo: 1.450 mm
... de escaneo Park NX-Tip - Sistema automatizado de microscopía de fuerza atómica (AFM) para medir pantallas planas ultra grandes y pesadas a nanoescala Para responder a la creciente demanda de metrología ...
Aumento: 19 unit - 120 unit
... La unidad LD 260 de Metrology está equipada con una pantalla capaz de soportar imágenes de 1,3 megapíxeles. Esta unidad de 8,4" proporciona a los operadores la capacidad de ampliar imágenes dentro del rango de 18,67 a 120x. Puede reduplicar ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
Resolución espacial: 0,5 µm
... ampliamente en la industria mecánica, de medición, electrónica y ligera; la universidad, el instituto y el departamento de metrología. El proyector de perfil de medición puede detectar la dimensión del contorno y la forma ...
Resolución espacial: 100 nm - 6.000.000 nm
... óptica auténtica y está certificada por UKAS según ISO6506 y ASTM E10. La serie BRINtronic de microscopios Brinell automáticos autónomos incluye: - El microscopio Brintronic-LT² portátil totalmente ...
Foundrax Engineering Products Ltd
Aumento: 40 unit - 100 unit
... OptiMIC Microscopio Microscopio con goniómetro para máquinas EWAG WS11. N°: MA 118GC-031 Especificaciones: - Imagen real. - Ángulo de observación de 30°. - Aumento estándar de 40X a 100X. - Goniómetro ...
Aumento: 10 unit
Resolución espacial: 1 nm
Peso: 50 kg
... 1. Alta precisión y alta repetibilidad 1) Basado en el sistema óptico confocal giratorio, combinado con un diseño estructural de alta estabilidad y un excelente algoritmo de reconstrucción 3D, el sistema de medición está compuesto conjuntamente ...
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