Microscopios para muestras de grandes dimensiones

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microscopio de inspección
microscopio de inspección
DM8000 M

... también aceleran la obtención de resultados al analizar muestras con un diámetro de 8’’/200 mm. La iluminación está basada en la tecnología LED más reciente y está completamente integrada en el microscopio. ...

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Leica Microsystems GmbH
microscopio optodigital
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DVM6

Microscopio digital para análisis de fallos, control y garantía de calidad, investigación y desarrollo o análisis forense. La excelente óptica, el manejo intuitivo y el software inteligente permiten al usuario obtener ...

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Leica Microsystems GmbH
microscopio para analizar materiales
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DM1750 M

... DM1750 M es un microscopio para materiales diseñado para obtener resultados de análisis rápidos y precisos incluso en entornos complejos. Al trabajar con el sistema Leica DM1750 M podrá constatar lo simple y fiable ...

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Leica Microsystems GmbH
microscopio óptico
microscopio óptico
ZEISS Axiolab 5

Aumento: 20 unit
Largo: 304 mm
Ancho: 210 mm

... para obtener la imagen. Es así de simple. Puede controlar el microscopio y la cámara que lleva acoplada sin necesidad de modificar el agarre, mientras sigue centrado en todo momento en su muestra. Ergonomía ...

microscopio de rayos X
microscopio de rayos X
ZEISS XRADIA Context microCT

... entorno de flujo de trabajo eficiente Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un Autoloader opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras ...

microscopio modular
microscopio modular
BXFM

Resolución espacial: 0,2 µm
Peso: 9 kg
Largo: 587 mm

... permite una alternación instantánea de un objetivo a otro, al mismo tiempo que minimiza los riesgos de contaminación de la muestra por parte del operador. Centrado del portaobjetivos giratorio El ajuste de centrado ...

microscopio óptico
microscopio óptico
MX63 series

Resolución espacial: 1 µm

... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño ...

microscopio AFM
microscopio AFM
Nanite

... aplicaciones. Limitaciones de la muestra - Ninguna El control de calidad y de procesos a menudo requiere el análisis de piezas o componentes de gran tamaño que no pueden dividirse en segmentos más pequeños. Tanto si ...

microscopio metalográfico
microscopio metalográfico
DS series

Los Microscopios Invertidos son compactos, duraderos y utilizados para altas necesidades de magnificación. Son ideales para el análisis de muestras de montaje con superficies de muestra ...

microscopio metalúrgico
microscopio metalúrgico
ECLIPSE MA200

Aumento: 1 unit - 100 unit
Peso: 26 kg
Largo: 295 mm

... software de análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en una solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE MA200 Microscopio ...

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Nikon Metrology
microscopio AFM
microscopio AFM
NX20

... de la muestra. Principales características técnicas: escáner 2D guiado por flexión con un rango de escaneo de 100 µm x 100 µm * Escáner Z de alta velocidad con un rango de escaneo de 15 µm * Sensor de posición XYZ de ...

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