Microscopios para nanotecnología

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro ...

Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm

... campo de la microscopía electrónica. ¡Experimente el nanomundo con el SU7000! Capacidad versátil de captura de imágenes El SU7000 destaca por la rápida adquisición de múltiples señales para satisfacer las necesidades ...

Resolución espacial: 1,2 nm

... modo de alto vacío y el de presión variable. EM Wizard es un sistema basado en el conocimiento para la obtención de imágenes SEM que va más allá de las condiciones básicas preestablecidas y las recetas. Su facilidad de ...

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones ...

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 5, 15 nm

... anteriormente sólo estaba disponible en un SEM de tamaño completo. Este microscopio electrónico de barrido funciona con energía limpia para obtener una herramienta analítica económica, sin comprometer ...

Aumento: 10 unit - 25.000.054 unit
Peso: 54 kg
Largo: 614, 617 mm

... serie TM4000 presenta innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de mesa. Esta nueva generación de microscopios de sobremesa Hitachi (TM) de larga tradición ...

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... fuentes de alimentación ultraestables para mejorar el rendimiento del instrumento - Capacidad de obtención simultánea de imágenes SEM y STEM con corrección de Cs y resolución atómica - Nueva platina y portamuestras de ...

Peso: 990 kg
Ancho: 1.190 mm
Altura: 1.800 mm

... El NP6800 de Hitachi es un sistema de sondeo dedicado basado en SEM y diseñado para satisfacer las necesidades analíticas de los dispositivos semiconductores del nodo de diseño de 10 nm y posteriores. El actuador piezoeléctrico ...

... El Hitachi NE4000 nanoEBAC es un sistema de sondeo basado en haz de electrones para la caracterización eléctrica y el análisis y la obtención de imágenes EBAC de interconexiones, materiales y componentes de dispositivos microelectrónicos. La ...

... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales ...

... cuanto al tamaño de exploración o el tipo de configuración. DriveAFM funciona tanto de forma autónoma como integrado en un microscopio óptico invertido. Una gama completa de modos de captura de imágenes, la posibilidad ...