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Resolución espacial: 1 µm
... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño ...
... LED más reciente y está completamente integrada en el microscopio. La baja radiación de calor y la integración en el estativo garantizan que el aire fluya de forma óptima alrededor del microscopio. La ...
... LED más reciente y está completamente integrada en el microscopio. La baja radiación de calor y la integración en el estativo garantizan que el aire fluya de forma óptima alrededor del microscopio. La ...
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro ...
... La morfología de la superficie es una propiedad importante para muchas superficies de alta tecnología con características tan pequeñas como unos pocos nanómetros y rugosidad superficial inferior a un nanómetro. Nanite es la herramienta ...
Aumento: 50 unit
Peso: 45 kg
... Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios ...
Nikon Metrology
Resolución espacial: 5 µm
... características de 1 μm y 3 ejes lineales con rodamiento de bolas de precisión Triax: mediciones de bajo ruido hasta niveles de fA - Microscopio estéreo: aumento de 15x-100x con gran campo de visión y montura c preparada ...
FORMFACTOR
... control en línea de la producción de obleas encoladas. Es compatible con sala limpia clase 10. La aplicación principal es la detección de vacíos, inclusiones y áreas delaminadas en la interfaz de unión de las obleas. ...
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