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Microscopios piezoeléctricos
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Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico de barrido Verios 5 XHR El microscopio ...
Peso: 990 kg
Ancho: 1.190 mm
Altura: 1.800 mm
... es un sistema de sondeo dedicado basado en SEM y diseñado para satisfacer las necesidades analíticas de los dispositivos semiconductores del nodo de diseño de 10 nm y posteriores. El actuador piezoeléctrico ...
... El Hitachi NE4000 nanoEBAC es un sistema de sondeo basado en haz de electrones para la caracterización eléctrica y el análisis y la obtención de imágenes EBAC de interconexiones, materiales y componentes de dispositivos microelectrónicos. La ...
... fácilmente en los microscopios, y son compatibles con una amplia gama de microscopios y otros sistemas ópticos Esta solución rentable para el ajuste delgado en el microscopio. Es muy ...
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