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Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible ...
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... El HF5000 es un S/TEM con corrección de Cs personalizable para experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en ...
Resolución espacial: 1 µm
... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño modular le permite ...
Aumento: 66 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 1,3 nm
Largo: 1.716 mm
... Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para la obtención de imágenes a escala transversal de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 cuenta con tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz ...
... El nuevo "Microscopio de Visión Artificial" (MVM) es un microscopio puramente digital con todas las características que hacen a un microscopio. Tiene un objetivo de microscopio ...
... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales ...
Aumento: 10 unit - 5.480.000 unit
Resolución espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energía (EDS) JEOL totalmente integrado, como plataforma común. El JSM-IT800 permite la sustitución de la lente objetivo del SEM como un módulo, ofreciendo diferentes versiones para satisfacer los requisitos de varios ...
... MHz, controlados a través de una interfaz gráfica de fácil manejo. Construido según los estándares de la industria de semiconductores alrededor de una plataforma central que utiliza la última tecnología de producción ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... El microscopio de zoom de la serie ZTX-S adopta el sistema de imagen óptica, con alta resolución, definición fina y fuerte sentido de la tridimensionalidad, fácil operación. El microscopio es ampliamente ...
... opcional y lentes objetivo de alta calidad con gran distancia de trabajo. - Ideal como unidad de microscopio de una estación de procesamiento de semiconductores. - Los modelos L y L4 admiten rangos ...
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