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Resolución espacial: 1 µm
... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño modular le permite ...
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro ...
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones ...
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... fuentes de alimentación ultraestables para mejorar el rendimiento del instrumento - Capacidad de obtención simultánea de imágenes SEM y STEM con corrección de Cs y resolución atómica - Nueva platina y portamuestras de ...
Aumento: 66 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 1,3 nm
Largo: 1.716 mm
... Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para la obtención de imágenes a escala transversal de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 cuenta con tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz ...
... El nuevo "Microscopio de Visión Artificial" (MVM) es un microscopio puramente digital con todas las características que hacen a un microscopio. Tiene un objetivo de microscopio ...
... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales ...
Peso: 17 kg
Largo: 490 mm
Ancho: 251 mm
La serie de microscopios polarizadores ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL se utiliza para estudiar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos al observar el contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ...
Nikon Metrology
Aumento: 10 unit - 5.480.000 unit
Resolución espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energía (EDS) JEOL totalmente integrado, como plataforma común. El JSM-IT800 permite la sustitución de la lente objetivo del SEM como un módulo, ofreciendo diferentes versiones para satisfacer los requisitos de varios ...
... MHz, controlados a través de una interfaz gráfica de fácil manejo. Construido según los estándares de la industria de semiconductores alrededor de una plataforma central que utiliza la última tecnología de producción ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... El microscopio de zoom de la serie ZTX-S adopta el sistema de imagen óptica, con alta resolución, definición fina y fuerte sentido de la tridimensionalidad, fácil operación. El microscopio es ampliamente ...
... opcional y lentes objetivo de alta calidad con gran distancia de trabajo. - Ideal como unidad de microscopio de una estación de procesamiento de semiconductores. - Los modelos L y L4 admiten rangos ...
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