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Microscopio digital para análisis de fallos, control y garantía de calidad, investigación y desarrollo o análisis forense. La excelente óptica, el manejo intuitivo y el software inteligente permiten al usuario obtener ...
Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm
... SEM de sobremesa económico y fácil de usar, con funciones de automatización fiables. El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom Pure es una herramienta ideal para ...
Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
... Análisis de la limpieza de los componentes con un SEM de sobremesa polivalente. SEM de sobremesa para el análisis de limpieza de componentes El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ...
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolución espacial: 1,2 nm
... modo de alto vacío y el de presión variable. EM Wizard es un sistema basado en el conocimiento para la obtención de imágenes SEM que va más allá de las condiciones básicas preestablecidas y las recetas. Su facilidad de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Medición de la respuesta dinámica y la topografía de MEMS y microestructuras La topografía de superficies y el análisis y visualización del movimiento dinámico son fundamentales para probar y desarrollar ...
... sólo tenga que girar la torreta de su microscopio óptico o perfilómetro y ejecutar la exploración. Mejore su microscopía óptica con AFM para obtener información avanzada Dado que la resolución de la ...
Peso: 9,5 kg
Largo: 657 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos ...
Nikon Metrology
Aumento: 10 unit - 5.480.000 unit
Resolución espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energía (EDS) JEOL totalmente integrado, como plataforma común. El JSM-IT800 permite la sustitución de la lente objetivo del SEM como un módulo, ofreciendo diferentes versiones para satisfacer los requisitos de varios ...
... proporciona documentación de la superficie de un componente para revelar irregularidades. Microscopio electrónico de barrido | SEM | Micrófono | Herramientas CNC Un Microscopio Electrónico ...
... producción. Tareas de medición típicas • Mediciones de rugosidad según • ISO 4287 e ISO 13565/ISO 25178 • Mediciones de topografía (p. ej.., volumen, desgaste, tribología) • Contorno y forma (2D, 3D) • Análisis ...
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