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Microscopios para topografía
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microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000 II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 15 nm
... FlexSEM II es un SEM de sobremesa/compacto para tareas de captura de imágenes que van más allá del rendimiento de los SEM de sobremesa convencionales. Es el sistema ideal para cualquiera que no quiera ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH


microscopio optodigitalDVM6
Microscopio digital para análisis de fallos, control y garantía de calidad, investigación y desarrollo o análisis forense. La excelente óptica, el manejo intuitivo y el software inteligente permiten al usuario obtener ...

Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm
... SEM de sobremesa económico y fácil de usar, con funciones de automatización fiables. El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom Pure es una herramienta ideal para ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm
... Análisis de la limpieza de los componentes con un SEM de sobremesa polivalente. SEM de sobremesa para el análisis de limpieza de componentes El SEM de sobremesa Thermo Scientific Phenom ...

Resolución espacial: 0,01 nm
... resolución nanométrica. Diferente a cualquier otro microscopio óptico El UP-5000 tiene una combinación 6 en 1 de muchas técnicas ópticas en una sola plataforma. Como resultado, nuestro microscopio óptico ...
RTEC Instruments

Aumento: 10 unit - 5.480.000 unit
Resolución espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energía (EDS) JEOL totalmente integrado, como plataforma común. El JSM-IT800 permite la sustitución de la lente objetivo del SEM como un módulo, ofreciendo diferentes versiones para satisfacer los requisitos de varios ...

... sólo tenga que girar la torreta de su microscopio óptico o perfilómetro y ejecutar la exploración. Mejore su microscopía óptica con AFM para obtener información avanzada Dado que la resolución de la ...

... proporciona documentación de la superficie de un componente para revelar irregularidades. Microscopio electrónico de barrido | SEM | Micrófono | Herramientas CNC Un Microscopio Electrónico ...

... producción. Tareas de medición típicas • Mediciones de rugosidad según • ISO 4287 e ISO 13565/ISO 25178 • Mediciones de topografía (p. ej.., volumen, desgaste, tribología) • Contorno y forma (2D, 3D) • Análisis ...
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