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Perfilómetros para semiconductores
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... el eje Z ofrece un rango de medición completo de 100 mm con una resolución vertical en el rango de los nanómetros. Este perfilómetro óptico se caracteriza por su diseño compacto con electrónica integrada e impresiona ...
TopMap Micro.View®+ es el perfilador óptico de superficies de nueva generación. Diseñada para la modularidad, esta completa estación de trabajo permite realizar inspecciones rutinarias rápidas y eficientes, así como configuraciones personalizadas ...
... El perfilómetro óptico 3D de superficie SuperView W1 es un instrumento ideal para la medición subnanométrica de diversas piezas de precisión. Basado en el principio de la tecnología de interferencia de luz blanca, combinado ...
Chotest Technology Inc.
... El perfilómetro óptico 3D de superficie SuperView W3 es un instrumento ideal para la medición subnanométrica de diversas piezas de precisión. Basado en el principio de la tecnología de interferencia de luz blanca, combinado ...
Chotest Technology Inc.
... El perfilómetro óptico 3D de superficie SuperView W1 es un instrumento ideal para la medición subnanométrica de diversas piezas de precisión. Basado en el principio de la tecnología de interferencia de luz blanca, combinado ...
Chotest Technology Inc.
... La serie SJ5720-OPT es capaz de medir tanto la rugosidad como el perfil de la superficie tras un escaneado. Además, cuenta con un módulo de software específico para la medición y el análisis de grandes superficies asféricas, por lo que ...
Chotest Technology Inc.
El S lynx 2 es un sistema óptico 3D compacto y versátil para mediciones de rugosidad, volumen y dimensiones críticas. Adquisición rápida El S lynx 2 está equipado con tres técnicas de medición muy potentes: interferometría, confocal ...
... comprobado en la producción con capacidad de manipulación automatizada de obleas al servicio de las industrias de semiconductores, semiconductores compuestos, LED de alto brillo, almacenamiento de datos ...
KLA Corporation
... gracias a su óptica multimodo, su software fácil de usar, su bajo coste de propiedad y sus comunicaciones SECS/GEM. El perfilómetro óptico Zeta-388 es un sistema de medición topográfica de superficies 3D sin contacto. ...
KLA Corporation
KLA Corporation
... altura en línea para la inspección, detección, identificación y guía en los segmentos de mercado de la electrónica, los semiconductores, la automoción y la automatización de fábricas. Ofreciendo velocidades de escaneo ...
Dalsa
... para la medición en línea, la inspección, la identificación y la orientación en aplicaciones de automoción, electrónica, semiconductores y automatización de fábricas. La serie Z-Trak ofrece resultados fiables y repetibles ...
Dalsa
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