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... el eje Z ofrece un rango de medición completo de 100 mm con una resolución vertical en el rango de los nanómetros. Este perfilómetro óptico se caracteriza por su diseño compacto con electrónica integrada e impresiona ...
PERFILÓMETRO ÓPTICO MODULAR PARA RUGOSIDAD NM Y MICROESTRUCTURAS TopMap Micro.View+ es la nueva generación de tecnología de medición óptica de superficies de Polytec. Su diseño modular permite varias configuraciones, ...
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Chotest Technology Inc.
Rango de medición: 0 mm
... dureza del material, por lo que se utiliza ampliamente para medir la superficie microscópica en industrias de semiconductores y semiconductores compuestos, LED de alto brillo, energía solar, sistemas ...
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El S lynx 2 es un sistema óptico 3D compacto y versátil para mediciones de rugosidad, volumen y dimensiones críticas. Adquisición rápida El S lynx 2 está equipado con tres técnicas de medición muy potentes: interferometría, confocal ...
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Dalsa
... para la medición en línea, la inspección, la identificación y la orientación en aplicaciones de automoción, electrónica, semiconductores y automatización de fábricas. La serie Z-Trak ofrece resultados fiables y repetibles ...
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