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Perfilador óptico compacto para microestructuras y rugosidad TopMap Micro.View® es el sistema de medición compacto de la familia TopMap de interferómetros de luz blanca que permite inspecciones y evaluaciones repetibles y de alta resolución ...
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El nuevo S neox supera a los microscopios ópticos de perfilado 3D existentes en términos de rendimiento, funcionalidad, eficiencia y diseño, proporcionando a Sensofar un sistema de medición de área líder en su clase. ¡Más rápido que ...
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Perfilómetro 3D capaz de eliminar puntos ciegos y analizar superficies brillantes Sistema de medición 3D sin contacto y fácil de usar. Función de escaneo rotativo motorizado para una mayor versatilidad en las mediciones. •Medición ...
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