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Repetibilidad: 0,005 µm - 4,4 µm
Carga: 5 kg - 25 kg
Carrera: 100 mm - 365 mm
... sistema de posicionamiento de 8 ejes / goniómetro Personalizable - Inspección automatizada de 8 ejes desde diferentes ángulos - Sistema ...
Repetibilidad: 0,001 µm - 4,4 µm
Carrera: 1,5 mm - 100 mm
Velocidad: 0,4 mm/s - 1.400 mm/s
... hasta 0,0005° Este sistema de posicionamiento permite la exploración tangencial en 6 grados de libertad con una repetibilidad muy elevada. El portamuestras, ajustable en enfoque, ángulo y distancia, ...
TELICA es una plataforma multi-ejes para aplicaciones de semiconductor de back-end. Es una arquitectura de pórtico dual permitiendo movimientos en 3 grados de libertad, X, Y y Z, para un total de 8 ejes ...
Repetibilidad: 2,5 µm
... precisión de los píxeles más pequeños desde cualquier ángulo Con este sistema de posicionamiento de alta precisión, la pantalla a inspeccionar se desplaza sobre una plataforma XY hasta ...
Steinmeyer Mechatronik GmbH
Repetibilidad: 2,5 µm
... sistema de posicionamiento de 8 ejes para análisis, inspección | Motor DC XYZ, husillo de bolas | Motor DC Phi Theta Omega, servo AC, Harmonic Drive Inspección de alta ...
Steinmeyer Mechatronik GmbH
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