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Sistemas de posicionamiento de manipulación de obleas
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Repetibilidad: 1,5 µm - 3,5 µm
Carga: 663 g
Carrera: 40 mm
... muy alta resolución en las tres direcciones laterales - Repetibilidad de hasta 1,5 µm El sistema de posicionamiento XYZ es un sistema de posicionamiento orientado cartesiano ...
Repetibilidad: 2,3 µm - 4,5 µm
Carga: 4,5 kg
Carrera: 50 µm - 50 µm
... MP130-3 Sistema de posicionamiento XYZ en miniatura, cartesiano Personalizable: - precisión de µm gracias a la alta rigidez - alta dinámica a velocidades de hasta 30 mm/s - carga de hasta 45 N - mínima ...
Repetibilidad: 5, 10 µm
Carga: 4 kg - 25 kg
Velocidad: 0,1 m/s - 10 m/s
... y otro grueso (CZ). Por su diseño, este módulo opcional permite el cumplimiento completo de los perfiles de movimiento de obleas para aplicaciones avanzadas de semiconductores, proporcionando así a los fabricantes de ...
Repetibilidad: 5 µm
Carga: 30 kg
Carrera: 300 mm
... Platinas XY de bastidor abierto diseñadas con un perfil bajo para una amplia gama de posicionamientos precisos automatizados en aplicaciones basadas en microscopios. El mecanismo de accionamiento está situado en el lateral ...
Repetibilidad: 1,5, 5,5 µm
Carrera: 76 mm
Velocidad: 50 mm/s
... Maximización del rendimiento en el menor espacio de construcción posible Este sistema de posicionamiento de alta precisión se ha diseñado específicamente como filtro de polarización complementario para ...
Steinmeyer Mechatronik GmbH
Repetibilidad: 1,5, 2,5 µm
Carrera: 50, 150 mm
Velocidad: 25 mm/s
... exposición UV | Sistema de posicionamiento de alta precisión para la exposición de obleas en atmósfera seca de nitrógeno Montajes de precisión 786001:002.26 Alineación XY theta de máscaras ...
Steinmeyer Mechatronik GmbH
Repetibilidad: 1,5, 2,5 µm
... extremadamente seco - Desarrollado específicamente para maximizar el rendimiento y la resolución de los sistemas de paso de obleas - Posicionamiento simultáneo de las lentes entre sí ...
Steinmeyer Mechatronik GmbH
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