Sistemas de posicionamiento para microscopía

Repetibilidad: 0,3 µm - 2,5 µm
Carga: 5 kg - 20 kg
Carrera: 100 mm - 720 mm

... procesos simultáneamente Este sistema de inspección consta de cuatro ejes para sala blanca y permite la medición automatizada de varios objetos simultáneamente. Se consigue una alta dinámica y la máxima reproducibilidad. ...

Repetibilidad: 0,01 µm - 2,5 µm
Velocidad: 5 mm/s - 35 mm/s

... excepcionalmente larga gracias a ejes estándar fiables a largo plazo Este sistema de posicionamiento de 9 ejes permite observar muestras desde todos los ángulos posibles con microscopios ...

Repetibilidad: 0,3 µm - 0,4 µm
Carrera: 100 mm - 200 mm
Velocidad: 15 mm/s - 25 mm/s

... Sistema XYZ con controlador Personalizable: - Ideal para configurar y ampliar su aplicación - Repetibilidad de alta precisión de hasta 0,3 µm - Pasos más pequeños y máxima fiabilidad a una velocidad de posicionamiento ...

Repetibilidad: 0,3 µm - 0,7 µm
Carrera: 200 mm
Velocidad: 15 mm/s - 25 mm/s

... inspección y microscopía XYZ de alta resolución Personalizable: - Ideal para la inspección de muestras - Repetibilidad de alta precisión de hasta 0,3 µm - Reducción de las desviaciones de medición a menos de 3 µm Este ...

Repetibilidad: 0,8 µm - 4 µm
Carga: 1 kg
Carrera: 25 mm - 25 mm

... perfilado Este sistema X-Y-Z miniaturizado es ideal para aplicaciones de posicionamiento en espacios reducidos. En combinación con un husillo de rosca fina, la Etapa XYZ alcanza valores de resolución ...