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Sistemas de preparación de muestra para SEM
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Con el Leica EM VCT500 se pueden transferir muestras en condiciones criogénicas o a temperatura ambiente, así como también al vacío o en atmósfera controlada.
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El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, ...
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Gracias al sistema de recubrimiento Leica EM ACE200, producir recubrimientos conductivos y homogéneos de metal o carbono para análisis SEM y TEM nunca ha sido tan cómodo. Si se configura como metalizador ...
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Su mejor elección para conseguir la máxima resolución en el análisis de TEM y FE-SEM. El sistema Leica EM ACE600 es EL sistema de deposición de película de alto vacío perfecto y versátil. ...
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Hitachi High-Tech Europe GmbH
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... El sistema de haz de iones amplio más avanzado para producir muestras de sección transversal o de fresado plano de excepcional calidad para la microscopía electrónica. El ArBlade 5000 está equipado con ...
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... El nuevo sistema de fresado de alto rendimiento ha permitido la irradiación de un haz de iones sobre un área mayor de la muestra. El fresado de superficies planas es eficaz para eliminar los arañazos ...
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