Comprobador de propagación de fisura DCPD-U50

para chapa metálica

El DCPD-U50 es un moderno instrumento basado en un microprocesador para medir la profundidad de las grietas en metales sometidos a ensayos de materiales. Basándose en el éxito del DCPD-U50, esta nueva unidad tiene en cuenta los comentarios y las sugerencias de los clientes, como se muestra en su impresionante lista de características. Utiliza el método de caída de potencial de corriente continua pulsada (DCPD), que es una técnica establecida técnica establecida por la norma ASTM 647. La técnica consiste en hacer pasar una corriente constante a través del metal sometido a prueba y medir la caída de tensión resultante que se crea a través de la muestra. La presencia de un defecto creciente alterará esta tensión y, mediante una calibración adecuada, se puede obtener una medida de la profundidad del defecto. Aplicaciones: ● Ensayo dinámico de materiales ● Análisis de la tensión/deformación ● Ensayo dinámico de elasticidad de materiales ● Iniciación de grietas por fatiga ● Estudios dinámicos de crecimiento de grietas ● Monitorización de la condición ● Estudios de cierre de grietas ● Pruebas de corrosión por tensión ● Crecimiento lento de grietas ● Iniciación de grietas ● Dimensionamiento de grietas Características ● DCPD continuo ● DCPD pulsado de serie ● Amplificador de señal diferencial de ultra precisión con gran ancho de banda de hasta 10k Hz ● Precisión de la ganancia ± 0,1%, ● Ganancia : 20 ~ 50.000 mediante interruptor giratorio, Precisión 1% ● Función de disparo, pico, depresión, intervalo de tiempo y punto medio de entrada de la forma de onda del ciclo de carga. ● Alta corriente O/P, hasta 50A. ● Módulo enchufable ● Equilibrio automático del puente, con EEROM para preservar el equilibrio sin energía ● Integrado con filtro de paso bajo Bessel de cuatro polos con frecuencias de corte de 1 Hz, 10 Hz, 100 Hz,1k, 10k Hz y banda ancha ● Desplazamientos de CC variables y equilibrio automático para la eliminación de tensiones estacionarias ● Dos canales como estándar, referencia y muestra.