- Control/optimización del sensor.
- DAC de 10 bits para el ajuste de las tensiones de excitación.
- Driver para la generación de las tensiones de recarga para
- continua y de autotest.
- Tensión de referencia interna mediante band gap ajustable
- Dos amplificadores de carga con offset programable y
- capacitancias de integración programables
- Dos amplificadores de muestreo y retención para las salidas analógicas
- Amplificador para la señal analógica antes del convertidor A/D
- Convertidor A/D de 14 bits de las señales analógicas
- Curvas características del sensor digital y corrección de la temperatura
- corrección de temperatura
- Bloque de filtros FIR de cuatro filtros, con hasta 31 puntos de muestreo seleccionables por filtro
- Configuración digital de la detección de umbrales
- Componente para el manejo de mediciones y casos de prueba relevantes para SIL (autocomprobación tras el Power-ON,
- prueba continua de dos elementos sensores de contrafase del mismo eje)
- Multiplexor analógico para la salida de tensión analógica, de prueba o de referencia
- Interfaz SPI e I2C
- Transmisión de datos en tiempo real desde el ASIC, modo maestro SPI
- Power-On-Reset (POR) con configuración desde EEPROM
- Generador de reloj interno
- Sensor de temperatura interno
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