El software consiste en un programa principal que proporcione el interfaz utilizador, y la varia entrada-salida de la máquina funciona, junto con por lo menos dos bibliotecas (DLL) que proporcionen el proceso del espectro y los cálculos de ZAF para los espectros tomados en un SEM cabido con un detector de EDS.
El software funciona en PC estándares y los sistemas operativos (Windows XP, 7, etc.). El análisis completo de ZAF es posible, con o sin estándares, usando una base de datos interna de los parámetros fundamentales (punto de congelación) por ejemplo coeficientes de absorción, producciones de la fluorescencia, probabilidades de la transición, el etc. Hay también un módulo de exhibición del espectro incluido.
El software también incluye la adquisición de espectros usando el hardware de Amptek DPP. Los métodos y los resultados subyacentes que el archivo (un archivo supuesto de EDX) se puede setup y reutilizar para el análisis de rutina, o los elementos se pueden seleccionar para cada nuevo análisis de espectro.
El software puede analizar materiales del bulto o un material thin-film single-layer. El análisis se puede hacer sin estándares si los resultados se pueden normalizar a 100%. Al usar estándares, el grueso puede también ser determinado o los resultados no tienen que ser normalizados.
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