Cámara industrial PV

digitalde emisión óptica por chispade inspección

La cámara NIR de Andors PV Inspector está diseñada para ofrecer la máxima velocidad y sensibilidad para la inspección en línea de electroluminiscencia y fotoluminiscencia, con una QE > 90% más allá de 800 nm y la incorporación de Fringe Suppression Technology™ para minimizar los efectos de flecos en el NIR - QE > 90% más allá de 800 nm - Velocidades de lectura de 5 MHz y 3 MHz - Modo de anillo de doble exposición - Tecnología de supresión de flecos ™ - UltraVac™ La cámara PV Inspector NIR de Andor está diseñada para ofrecer el máximo rendimiento en velocidad y sensibilidad para la inspección en línea de electroluminiscencia y fotoluminiscencia, proporcionando > 90% QE más allá de 800 nm e incorporando Fringe Suppression Technology™ para minimizar los efectos de flecos en el NIR. La matriz de 1024 x 1024 cuenta con píxeles de alta resolución de 13 μm y se beneficia de una corriente oscura insignificante con refrigeración termoeléctrica hasta -70°C. PV Inspector ofrece el mayor rendimiento del sector gracias a velocidades de lectura rápidas de hasta 5 MHz, combinadas con un exclusivo "modo de anillo de exposición doble" que permite cambiar rápidamente de exposición. Un puerto USB 2.0 bloqueable garantiza una conectividad segura y resistente a las vibraciones. La sensibilidad NIR mejorada y los exclusivos modos de alta velocidad del PV Inspector permiten la inspección EL de doble exposición a velocidades superiores a 1 célula por segundo, lo que resulta ideal para sistemas de inspección fotovoltaica de muy alto rendimiento, como los que se encuentran en cadenas y clasificadores de células. La rápida obtención de imágenes de doble exposición permite la medición cuantitativa de células bajo distintos niveles de polarización.