Cámara industrial iKon-M SO
digitalde detecciónrayos X

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Características

Aplicaciones
industrial
Tecnología
digital
Función
de detección
Espectro
rayos X
Sensor de imagen
CCD
Interfaz
USB 2.0
Opciones y accesorios
alta sensibilidad, megapíxel, de amplio rango dinámico, robusta, silenciosa

Descripción

La serie ikon-M SO USB 2.0 de Andor cuenta con sensores de alta QE para la detección directa de fotones EUV o VUV de rayos X blandos. Una práctica brida CF152 giratoria de 6" sellada con 16 puntos y filo de cuchilla proporciona un sellado robusto y altamente eficaz a cualquier interfaz de cámara de vacío compatible. - Extremo frontal abierto - QE máximo del 95 - Tamaño de píxel de 13 x 13 μm - Refrigeración TE hasta -100°C - Lectura de ruido ultrabajo La serie iKon de Andor ofrece un rendimiento de sensibilidad excepcional mediante una combinación de sensores retroiluminados con QE > 95%, electrónica de lectura de bajo ruido y refrigeración TE profunda líder del sector y sin mantenimiento hasta -100 °C. Dispone de opciones de sensores de área grande de alta resolución de 1 y 4,2 megapíxeles (con 13 y 13,5 μm píxeles respectivamente) para la obtención simultánea de imágenes de alto rango dinámico y alta resolución espacial en el rango VUV y de rayos X blandos. Una práctica brida CF-152 giratoria de 6" sellada con 16 puntos y filo de cuchilla proporciona un sellado robusto y altamente eficaz a cualquier interfaz de cámara de vacío compatible. Los iKon-M y -L también ofrecen una interfaz USB2 y compatibilidad con Labview o EPICS para una integración perfecta en configuraciones complejas. La serie iKon de Andor ofrece una sensibilidad excepcional gracias a una combinación de sensores retroiluminados con un QE > 95%, una electrónica de lectura de bajo ruido y una refrigeración TE profunda líder en el sector y sin mantenimiento hasta -100 °C. Dispone de sensores de área grande de alta resolución de 1 y 4,2 megapíxeles (con píxeles de 13 y 13,5 μm, respectivamente) para la obtención simultánea de imágenes de alto rango dinámico y alta resolución espacial en el rango VUV y de rayos X blandos.

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