Difractómetro de rayos X ADX-2500
alta resolución

Difractómetro de rayos X - ADX-2500 - Angstrom Advanced - alta resolución
Difractómetro de rayos X - ADX-2500 - Angstrom Advanced - alta resolución
Difractómetro de rayos X - ADX-2500 - Angstrom Advanced - alta resolución - imagen - 2
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Tipo
de rayos X
Especificaciones
alta resolución

Descripción

El instrumento de difracción de rayos X ADX-2500 está diseñado para su uso en la medición de microestructuras, pruebas e investigaciones de investigación en profundidad. Proporciona el análisis de muestras monocristalinas, policristalinas y amorfas, junto con otros tipos de análisis como el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, indexación de patrones, determinación y refinamiento de células unitarias, entre otros. Una perfecta incorporación del hardware y el software permite que el instrumento realice diferentes tipos de análisis. Utilizando un sistema de control estable con generador de rayos X y la precisión de su medición del ángulo de difracción, el modelo garantiza la obtención de datos precisos El ADX-2500 se compone de un generador de rayos X, un goniómetro, una unidad de registro y una unidad de rendimiento integrada. Un software que lo acompaña permite tareas generales de procesamiento de datos de difracción tales como: búsqueda automática de picos, búsqueda manual de picos, intensidad integral, separación de Kα1, α2, eliminación de fondo, suavizado y magnificación de patrones, entre otras.

---

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.