Analizador de señal ME7848A series
de red vectorialmodularóptico

Analizador de señal - ME7848A series - Anritsu - de red vectorial / modular / óptico
Analizador de señal - ME7848A series - Anritsu - de red vectorial / modular / óptico
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Características

Objeto de la medición
de señal
Ámbito de aplicación
de red vectorial
Configuración
modular
Tecnología
óptico

Descripción

La serie de analizadores de redes optoelectrónicas (ONA) VectorStar proporciona mediciones especificadas y trazables de dispositivos O/E, E/O y O/O que funcionan a longitudes de onda de 850, 1310 y 1550 nm hasta 110 GHz El analizador de redes optoelectrónicas (ONA) VectorStar ME7848A proporciona un enfoque modular para mediciones ópticas de dispositivos O/E, E/O y O/O que operan a longitudes de onda de 850, 1310 y 1550 nm. Hay dos configuraciones disponibles: la serie VectorStar ME7848A-100 incluye el módulo de calibración MN4765B O/E y la serie VectorStar ME7848A-200 añade el convertidor MN4775A E/O. La serie VectorStar ME7848A-200 ofrece la posibilidad de cambiar rápidamente entre mediciones O/E, E/O y O/O con mediciones trazables especificadas establecidas por el módulo de calibración MN4765B O/E. El VectorStar ME7848A ONA puede modificarse fácilmente a diferentes longitudes de onda añadiendo el convertidor MN4775A E/O apropiado y el detector de calibración MN4765B O/E. La serie VectorStar ME7838A-100 se puede actualizar a una serie 200 incluyendo el convertidor E/O MN4775A apropiado. Capacidades de medición Con la adición de los dos moduladores, el VectorStar, junto con un fotodetector O/E de 110 GHz, puede realizar las siguientes mediciones. Las ventajas inherentes que teníamos en el sistema de 70 GHz siguen siendo aplicables al sistema de 110 GHz, a saber, capacidad de actualización, flexibilidad para realizar mediciones optoelectrónicas y de E/E, y trazabilidad NIST en el fotodetector de calibración de referencia. - Parámetros de respuesta (respuesta en frecuencia, eficiencia de conversión, ganancia del receptor, etc.) - Funciones de transferencia - Medidas de retardo de grupo - Pérdidas ópticas

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MWC 2025
MWC 2025

3-06 mar. 2025 Barcelona (España) Hall 5 - Stand 5D41

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