FET de GaN
Característica del sistema:
- Kit de prueba de GaN basado en la plataforma de prueba estándar AccoTEST STS8200 o STS8300
- Hasta cuatro sitios de prueba por un kit, y máximo soporte de 2 kits de prueba con 8 sitios de prueba en paralelo por el probador
- Fuente VI totalmente flotante de hasta 1000V/10A DC, máx.2000v/20A
- Módulo de prueba de baja fuga incluido, capacidad de prueba de fuga <1nA
- Soporta programación por menú
Opción de prueba de Ron dinámico
---