Micrómetro de mandrilado SMXTA i series
interioranalógicocompacto

Micrómetro de mandrilado - SMXTA i series - Bowers Group - interior / analógico / compacto
Micrómetro de mandrilado - SMXTA i series - Bowers Group - interior / analógico / compacto
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Características

Medición realizada
de mandrilado, interior
Sistema de visualización
analógico
Especificaciones
compacto, micro
Capacidad de medición

Mín.: 2 mm
(0,079 in)

Máx.: 6 mm
(0,236 in)

Resolución

Mín.: 2 µm

Máx.: 5 µm

Descripción

Este juego de calibres de Bowers Group, completo con anillo de ajuste, incluye los calibres analógicos XTA Micro. Estos calibres disponen de un controlador mecánico más compacto, ligero y ergonómico. La escala Vernier del XTA Micro mejora la resolución de 5µ a 2µ. El juego de calibres analógicos XTA Micro de Bowers Group incluye los calibres analógicos XTA Micro completos con anillo de ajuste. Con un controlador mecánico compacto y ligero, estos calibres de diseño ergonómico cuentan con una escala Vernier que mejora la resolución de 5µ a 2µ. CARACTERÍSTICAS - Controlador mecánico más compacto - Más ligero y ergonómico - Funcionalidad mejorada - Escala Vernier añadida para mejorar la resolución de 5µ a 2µ - Graduación: rango de 2-6mm - 0,001mm. 0.rango de 080"-1/4": 0.0001" - Graduación: rango 6-20mm - 0.002mm. rango 1/4"-3/4": 0.0001"

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