Difractómetro de rayos X D8 ADVANCE Plus

para polvos

El D8 ADVANCE Plus combina la máxima flexibilidad con una facilidad de uso sin precedentes, que se ajusta perfectamente a las necesidades analíticas de muestras epitaxiales y policristalinas de película fina, a granel y en polvo en condiciones ambientales y no ambientales. Gracias a la óptica TRIO, el cambio entre las diferentes geometrías de los instrumentos se realiza con sólo pulsar un botón, de forma fiable y sin la intervención del usuario. Difracción de polvo sin precedentes con la geometría de Bragg-Brentano Excelente resolución a alta intensidad en muestras epitaxiales Óptima difracción de película fina policristalina en la geometría de incidencia del pastoreo XRR para determinar el espesor de la película desde 0,1 nm hasta 250 nm