Difractómetro de rayos X D8
GISAXSde laboratorioalta resolución

Difractómetro de rayos X - D8  - Bruker Daltonics - GISAXS / de laboratorio / alta resolución
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Características

Tipo
de rayos X, GISAXS
Aplicaciones
de laboratorio
Especificaciones
alta resolución

Descripción

La familia D8 DISCOVER es la solución de difracción de rayos X más precisa, potente y flexible del mercado. Cubriendo una amplia gama de aplicaciones, desde la difracción de polvo clásica hasta la investigación de materiales de vanguardia, el D8 DISCOVER se puede personalizar completamente con la última tecnología, incluyendo fuentes de rayos X de alto rendimiento, ópticas especializadas, etapas de muestra dedicadas y detectores multimodo. El D8 DISCOVER es una familia de analizadores de rayos X multiuso que puede configurarse para todas las aplicaciones de investigación de materiales basadas en difracción y dispersión de rayos X, incluyendo análisis de fase cualitativo y cuantitativo, análisis de estructura, difracción de rayos X de alta resolución, reflectometría, mapeo de espacio recíproco, difracción de incidencia de gradiente (GID en el plano), dispersión de rayos X de ángulo pequeño de incidencia de gradiente (GISAXS), análisis de tensión y textura, y microdifracción, dependiendo de los accesorios. DIFFRAC.DAVINCI guía al usuario hacia las configuraciones óptimas de los instrumentos, independientemente de las aplicaciones. El paquete de software DIFFRAC.SUITE guía a los usuarios principiantes a través del desarrollo y ejecución racionalizados de métodos, al tiempo que asiste a los expertos de forma discreta. El potente software de análisis permite realizar análisis sencillos pulsando un botón con una profundidad excepcional para aquellos que estén interesados en obtener los mejores resultados. La familia D8 DISCOVER incluye las variantes DISCOVER y DISCOVER Plus, diferenciadas por el goniómetro estándar D8 o el goniómetro ATLAS. Gracias a su carcasa muy espaciosa, el D8 DISCOVER permite configuraciones instrumentales rentables que superan los límites de la difracción de rayos X de laboratorio.

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