Difractómetro de rayos X D8 DISCOVER

XRDSAXSGISAXS

La solución XRD más versátil y flexible para satisfacer perfectamente los requisitos de la investigación, el desarrollo y el control de calidad en la industria y el mundo académico. Fuentes de rayos X con un brillo extraordinario, como la fuente de rayos X de microfocalización IµS y la fuente de rayos X turbo de alto brillo HB-TXS. El D8 DISCOVER es el difractómetro de rayos X polivalente insignia que ofrece componentes de tecnología punta. Está diseñado para la caracterización estructural de toda la gama de materiales, desde polvos, materiales amorfos y policristalinos hasta películas finas multicapa epitaxiales en condiciones ambientales y no ambientales. Aplicaciones: Identificación y cuantificación de fases, determinación y refinamiento de estructuras, análisis de microtensiones y tamaño de cristalitos, Reflectometría de rayos X, difracción de incidencia rasante (GID), difracción en el plano, DRX de alta resolución, GISAXS, análisis de tensión GI, análisis de orientación de cristales, análisis de tensión residual, textura y estructura Análisis de tensión residual, textura y figuras de polos, microdifracción de rayos X, dispersión de rayos X de ángulo ancho (WAXS), Análisis de dispersión total: Difracción de Bragg, Función de distribución de pares (PDF), Dispersión de rayos X en ángulo pequeño (SAXS)