Perfilómetro óptico ContourX-200
3Dcon interferometría de luz blancaconfocal

Perfilómetro óptico - ContourX-200 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / con interferometría de luz blanca / confocal
Perfilómetro óptico - ContourX-200 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / con interferometría de luz blanca / confocal
Perfilómetro óptico - ContourX-200 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / con interferometría de luz blanca / confocal - imagen - 2
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Características

Tecnología
óptico, 3D, con interferometría de luz blanca, confocal
Aplicaciones
para control
Configuración
de mesa, compacto
Otras características
sin contacto, de alta velocidad

Descripción

Mesa flexible para metrología de texturas superficiales ContourX-200 El perfilómetro óptico ContourX-200 ofrece la combinación perfecta de caracterización avanzada, opciones personalizables y facilidad de uso para una metrología de superficies 3D sin contacto rápida, precisa y repetible. El sistema, que ocupa poco espacio y es compatible con galgas, ofrece capacidades de medición de alta resolución 2D/3D sin concesiones gracias a una cámara digital de 5 MP con mayor campo de visión y una nueva platina XY motorizada. Con una resolución y precisión sin igual en el eje Z, el ContourX-200 ofrece todas las ventajas reconocidas por la industria de la tecnología de interferometría de luz blanca (WLI) propiedad de Bruker sin las limitaciones de los microscopios confocales convencionales y los perfiladores ópticos estándar de la competencia. Automatización capacidades Habilita rutinas para mediciones y análisis más rápidos. Motorizado XY motorizada Proporciona un funcionamiento silencioso y de alta velocidad para metrología cuantitativa. Tolerante a las vibraciones diseño compacto Proporciona estabilidad de medición y repetibilidad apta para calibres. CARACTERÍSTICAS Metrología sin compromisos, la mejor de su clase Basado en más de cuatro décadas de innovación patentada por WLI, el perfilómetro óptico ContourX-200 ofrece los resultados de bajo ruido, alta velocidad, exactitud y precisión que requiere la metrología cuantitativa. Con el uso de múltiples objetivos y el reconocimiento de características integrado, las características pueden rastrearse en una variedad de campos de visión y con una resolución vertical subnanométrica, proporcionando resultados independientes de la escala para aplicaciones de control de calidad y supervisión de procesos en industrias muy diversas. ContourX-200 es robusto en todas las situaciones de superficie, desde 0,05% hasta 100% de reflectividad.

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