Microscopio FTIR HYPERION II

para investigación en materialesde mesade alta precisión

El HYPERION II es un microscopio para investigación de gran versatilidad y flexibilidad que permite combinar imágenes láser infrarrojas (QCL) y FT-IR en un solo instrumento. El HYPERION II supone una gran innovación en microscopía infrarroja. Proporciona imágenes IR hasta el límite de difracción y supone un punto de referencia en microscopía ATR. Combina la microscopía FT-IR y de imágenes láser infrarrojas (ILIM) por primera vez en un solo dispositivo, ofreciendo los tres modos de medición: transmisión, reflexión y ATR. • Selección de detectores para μ-FT-IR: LN2-MCT de banda ancha, media y estrecha, MCT refrigerado termoeléctricamente (TE). • Detector de matriz de plano focal (FPA) para imágenes infrarrojas (64x64 o 128x128 píxeles). • Implementación opcional del módulo QCL de imágenes láser infrarrojas (ILIM, láser clase 1). • Selección de lentes objetivo: 3,5x/15x/36x/74x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS. • Extensión del rango espectral: desde el infrarrojo cercano (NIR) hasta el infrarrojo lejano (FIR). • Selección de aperturas: aperturas de cuchilla manuales, rueda de aperturas de cuchilla automatizada. Aperturas metálicas para NIR. • Selección de accesorios y platinas para muestra: accesorio de imagen IR macro, platina para enfriamiento / calentamiento, compartimiento de muestras, etc. • Selección de herramientas visuales/ópticas: Iluminación de campo oscuro, iluminación de fluorescencia, polarizadores VIS, polarizadores IR, etc.