Objetivo de microscopio de gran formato MF seriesde escaneo linealde detecciónpara uso industrial
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Características
- Tipo
- de escaneo lineal
- Aplicaciones técnicas
- de detección, para uso industrial, para inspección, para máquina de impresión, para aplicaciones metalúrgicas, de identificación, para la inspección de circuitos semiconductores
- Otras características
- de baja distorsión, de gran formato
- Distancia focal
Máx.: 90 mm
(3,54 in)Mín.: 35 mm
(1,38 in)
Descripción
oBJETIVO DE GRAN FORMATO DE 29 MP
El área de imagen máxima puede alcanzar los 43 mm, compatible con un sensor de 29 millones de píxeles
Compatible con cámaras de escaneo lineal 4K, correspondientes a 5μ/7μ píxeles
Rendimiento óptico mucho mejor que el de los objetivos SLR
Hay disponibles distancias focales y aumentos estándar
Adecuado para la impresión y la inspección de envases
APLICACIÓN
Industria
Defectos/manchas
Comprobación de defectos/manchas en chapas de acero
Equipos electrónicos
Identificar existencia / Identificar clasificación
Determinar el color de la batería
Piezas electrónicas
Altura
Detectar marcas metálicas
Cristal líquido, semiconductor, otros
Recuento
Cálculo del número de tarjetas SD
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Catálogos
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