Objetivo de microscopio de escaneo del área FA 15/16A Series

de detecciónde identificaciónpara la inspección de circuitos semiconductores

1.1 20MP Calidad de imagen ultra alta Admite cámaras de escaneo de área de 20 MP Alta iluminación relativa, con gran apertura Distorsión <0,1% Rango de enfoque de 0,1 m a infinito Compatible con 1 '' y 2 / 3 " sensor APLICACIÓN Piezas electrónicas Identificar existencia / Identificar clasificación Detectar el número de microchips y marcar los defectos Defecto/mancha Detectar defectos de la cámara Cristal líquido, semiconductor, otros Medición geométrica Detecta la curvatura del plomo del CI Piezas electrónicas Conector Detección de la planitud de las patillas del conector