Objetivo de microscopio de escaneo lineal LS16-P series

de detecciónde identificaciónde alta resolución

LENTE DE EXPLORACIÓN LINEAL DE ILUMINACIÓN COAXIAL Diseñado para sistema de iluminación coaxial Evita la deducción de resolución causada por el uso de divisor de haz Cumple los requisitos de detección de alta resolución y alto contraste 16K / 5 μ y compatible con 16K / 3,5 μ y 12K / 5 μ cámaras de exploración lineal Con divisor de haz de 30 * 80 mm Distorsión óptica ultra baja, menos de 0,001%, o 1 píxel Gran apertura, FNO. 3.8 APLICACIÓN Defectos/manchas Comprobación de defectos/manchas en chapas de acero Piezas electrónicas Identificar existencia / Identificar clasificación Detectar el número de microchips y marcar los defectos Defecto/mancha Detectar defectos de la cámara Equipos electrónicos Identificar existencia / Identificar clasificación Detección de mala unión y cables rotos de cable del motor