Perfilómetro con estilete CP200

Stylus Nano Profiler CP200 es un instrumento de medición por contacto de ultraprecisión para medir la rugosidad superficial y el perfil microscópico, como la altura de paso micro-nano, el espesor de la película. El CP200 utiliza un sensor de desplazamiento con resolución sub-angstrom, adquisición de señal de ruido ultrabajo, control de movimiento ultra-fino y tecnología de algoritmos de calibración con un excelente rendimiento. Su fuerza de contacto es extremadamente pequeña y no existen requisitos especiales para medir las características de reflexión de la superficie, los tipos de material y la dureza del material, por lo que se utiliza ampliamente para medir la superficie microscópica en industrias de semiconductores y semiconductores compuestos, LED de alto brillo, energía solar, sistemas microelectromecánicos MEMS, pantallas táctiles, automoción y equipos médicos.