Sonda de interferometría de luz blanca SuperView WX100
Funciones
Función de medición: puede realizar un escaneo Z de alta precisión de la superficie de la muestra y obtener una imagen 3D.
Función de análisis: Puede obtener datos 2D y 3D, como la rugosidad de la superficie, el tamaño del contorno micro-nano-nivel, etc.
Función de programación: Soporta pasos preconfigurados de procesamiento de datos y herramientas de análisis, un solo clic para completar todo el proceso desde la medición hasta el análisis.
Análisis por lotes: El procesamiento de datos y las plantillas de análisis se pueden personalizar de acuerdo con las demandas del cliente, y el análisis por lotes con un solo clic se puede realizar para el mismo tipo de datos de parámetros
Semiconductor, oblea de silicio pulida, oblea de silicio delgada, oblea IC
electrónica 3C, rugosidad del cristal de zafiro, defectos del molde de la carcasa metálica, diferencia de altura de la pantalla de cristal
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