El perfilómetro óptico 3D híbrido de la serie Superview WT se utiliza para la medición subnanométrica de superficies de diversos componentes y materiales de precisión. Integra las características de rendimiento de dos instrumentos de medición 3D de alta precisión, el interferómetro de luz blanca y el microscopio confocal, y puede realizar un escaneado sin contacto de la superficie de las muestras y, a continuación, restablecer la imagen 3D de la superficie. Cuando se miden superficies ultrasuaves y transparentes, puede utilizarse el modo de interferometría de luz blanca para obtener imágenes de alta precisión y sin distorsiones, y analizar parámetros como la rugosidad. Cuando se miden superficies gruesas con características de ángulo agudo, el modo de microscopía confocal puede reconstruir imágenes topográficas 3D de gran ángulo, y los parámetros 2D y 3D que reflejan la calidad de la superficie se obtienen mediante el procesamiento de datos y el análisis de las imágenes 3D de la superficie a través del software.
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