Aparato de control de semiconductores

La inspección de dispositivos semiconductores es un paso crucial en el proceso de producción de microelectrónica. Implica una inspección de alta precisión en busca de defectos y múltiples fases de producción, el registro y la salida de los resultados y la generación de información relacionada con el control de calidad a la que se puede acceder y sobre la que se puede actuar inmediatamente para mejorar el rendimiento global. CIMS ofrece soluciones de inspección automatizadas para obleas con patrones, así como diversos productos de fan-out y fan-in tanto para WLP (wafer-leve-packaging) como para PLP (panel-level-packaging). Las AOI de CIMS para microelectrónica ayudan a nuestros clientes a aumentar drásticamente el rendimiento de su proceso de fabricación y a mejorar la calidad del producto final. Metrología y opciones de inspección adicionales Las opciones de metrología complementaria de CIMS están diseñadas para mejorar aún más las capacidades de inspección de los dispositivos semiconductores. Estas opciones pueden integrarse con los equipos CIMS, ofreciendo una nueva capa de garantía de calidad a nuestros clientes. Las opciones complementarias de CIMS incluyen funciones únicas de metrología 2D y 3D que permiten realizar mediciones avanzadas durante el ciclo de inspección normal. Esto elimina la necesidad de sistemas de metrología fuera de línea y acorta el ciclo de retroalimentación de control de calidad.