Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SEM5000Pro

de laboratoriopara control de calidadindustrial

CIQTEK FESEM Microscopio SEM5000Pro Especificaciones -Óptica electrónica Resolución：0,8 nm @ 15 kV, SE/1,2 nm @ 1,0 kV, SE Tensión de aceleración：0,02kV ~ 30 kV Ampliaciónn (Polaroid)：1 ~ 2.500.000 x Tipo de pistola de electrones：Pistola de electrones de emisión de campo Schottky -Cámara de muestras Cámara：Cámaras dobles (navegación óptica + monitor de cámara) Alcance de la platina：X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm/T: -10°～ +70°, R: 360° -Detectores y extensiones SEM Estándar：Detector de electrones de lente interna/Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional：Detector de electrones retrodispersados retráctil (BSED) Microscopio electrónico de transmisión de barrido retráctil (STEM) Detector de bajo vacío（LVD） Espectroscopia de energía dispersiva (EDS / EDX) Patrón de difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) Especímenes de intercambio Loadlock （4 pulgadas /8 pulgadas) Panel de control con bola de seguimiento y perilla -Software Idioma：Inglés Sistema Operativo：Windows Navegación：Navegación óptica, Navegación rápida por gestos, Trackball (opcional) Funciones Automáticas：Auto Brillo y Contraste, Auto Focus, Auto Stigmator El CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky (FE-SEM) especializado en alta resolución incluso con bajo voltaje de excitación. Emplea una avanzada tecnología de óptica electrónica "Super-Tunnel" que facilita una trayectoria del haz sin cruces junto con un diseño de lente compuesto electrostático-electromagnético. Estos avances reducen el efecto de carga espacial, minimizan las aberraciones de la lente, mejoran la resolución de las imágenes a bajo voltaje y alcanzan una resolución de 1,2 nm a 1 kV.