Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SEM5000Pro

de laboratoriopara control de calidadindustrial

CIQTEK SEM5000Pro es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas funciones. Diseño de columna avanzado, tecnología de túnel de alto voltaje (SuperTunnel), diseño de lente de objetivo magnético de baja aberración sin fugas, para lograr imágenes de alta resolución de bajo voltaje, mientras que las muestras magnéticas se pueden aplicar. Navegación óptica, funciones automáticas avanzadas, interacción hombre-máquina bien diseñada y funcionamiento optimizado. Tanto si se tiene experiencia como si no, uno puede iniciarse rápidamente en las tareas de captura de imágenes de alta resolución. Captación de imágenes de alta resolución con baja tensión de aceleración. El espejo compuesto electromagnético reduce las aberraciones, mejora significativamente la resolución a bajas tensiones y permite la observación de muestras magnéticas. Tecnología de túnel de alta presión (SuperTunnel), en la que los electrones del túnel pueden mantener una alta energía, lo que reduce los efectos de carga espacial y garantiza una resolución a bajo voltaje. La trayectoria óptica electrónica sin cruce reduce eficazmente la aberración del sistema y mejora la resolución. Lente objetivo de temperatura constante refrigerada por agua, para garantizar la estabilidad, fiabilidad y repetibilidad del trabajo de la lente objetivo. Diafragma ajustable de seis orificios de desviación magnética, orificio de diafragma de conmutación automática, sin ajuste mecánico, para lograr una observación de alta resolución o un modo de análisis de haz grande de conmutación rápida.