Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SEM4000Pro

de inspecciónde laboratoriopara analizar materiales

CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño de lente magnética de tres etapas, con una corriente de haz grande y continuamente ajustable, tiene ventajas obvias en EDS, EBSD, WDS y otras aplicaciones. Admite modo de bajo vacío, puede observar directamente la conductividad de muestras débiles o no conductoras. El modo de navegación óptica estándar, así como una interfaz de operación intuitiva, facilitan el trabajo de su análisis. • Equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración •Alta resolución, mejor que 1 nm de resolución a 30 kV •Diseño de lente magnética de tres etapas, rango ajustable de haz amplio •*Detectores de electrones secundarios de alto rendimiento y bajo vacío, observe muestras débiles o no conductoras •El diseño del objetivo magnético sin fugas puede observar directamente muestras magnéticas •Modo de navegación óptica estándar