Microscopio electrónico de barrido SEM2100

de laboratoriopara analizar materialespara semiconductor

Especificaciones del microscopio SEM CIQTEK SEM2100 Óptica de electrones Resolución: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm @ 20 kV, BSE Tensión de aceleración: 0,5 kV ~ 30 kV Aumento (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Cámara de muestras Cámara: Navegación óptica Monitorización de Cámara Tipo de platina: 3 ejes, eje XYZ compatible con vacío motorizado Alcance XY: 125 mm Rango Z: 50 mm Detectores SEM Estándar: Detector Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detector retráctil de electrones retrodispersados (BSED) Espectrómetro de energía dispersiva (EDS / EDX) Patrón de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) Opcional Bloqueo de carga de intercambio de muestras Trackball y panel de control Interfaz de usuario - Sistema Operativo: Windows Navegación: Navegación Óptica, Navegación Rápida por Gestos, Trackball (Opcional) Funciones Automáticas: Brillo y contraste automáticos, enfoque automático, estigmatizador automático El microscopio SEM CIQTEK SEM2100 presenta un proceso operativo simplificado y se adhiere a los estándares de la industria y a los hábitos de los usuarios en su diseño de "Interfaz de usuario". A pesar de la interfaz de software minimalista, proporciona funciones automatizadas completas, herramientas de medición y anotación, capacidades de gestión de post-procesamiento de imágenes, navegación de imágenes ópticas y mucho más. El diseño del SEM2100 materializa a la perfección la idea de "Simplicidad sin sacrificar la funcionalidad". #Diseño Ul intuitivo, limpio y fácil de usar #Funciones de automatización completas #Funciones integradas de postprocesado de imágenes #Funciones integradas de postprocesado de imágenes #Navegación Óptica de Imagen Estándar #Excelente capacidad de ampliación #Más fácil de usar