Microscopio electrónico de barrido SEM2100
de laboratoriopara analizar materialespara semiconductor

Microscopio electrónico de barrido - SEM2100 - CIQTEK Co., Ltd. - de laboratorio / para analizar materiales / para semiconductor
Microscopio electrónico de barrido - SEM2100 - CIQTEK Co., Ltd. - de laboratorio / para analizar materiales / para semiconductor
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Características

Tipo
electrónico de barrido
Aplicaciones técnicas
de laboratorio, para analizar materiales, para materiales, para semiconductor, para batería
Ergonomía
recto
Calidad de los objetivos
con óptica plana
Técnica de observación
in-situ
Configuración
de pie
Fuente de luz
de iluminación coaxial
Fuente de electrones
con filamento de tungsteno
Fuente de iones
de galio
Concepción de la lente
con corrector de aberraciones
Tipo de detector
de electronos retrodispersados, in-lens SE, EBSD
Opciones y accesorios
asistido por ordenador, USB
Otras características
de observación, de alta definición
Aumento

300.000 unit

Resolución espacial

3,9 nm, 4,5 nm

Descripción

El SEM2100 es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de filamento de tungsteno fácil de usar y accesible, diseñado para usuarios principiantes. Presenta un proceso operativo simplificado y se adhiere a los estándares de la industria y a los hábitos de los usuarios en el diseño de su interfaz de usuario. A pesar de su interfaz de software minimalista, ofrece una amplia gama de funciones automatizadas, herramientas de medición y anotación, capacidades de gestión de posprocesamiento de imágenes, navegación de imágenes ópticas, etc. Este concepto de diseño encarna a la perfección la idea de que "la sencillez no compromete la funcionalidad".

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