Microscopio electrónico de barrido con haz iónico focalizado DB550
para análisisde inspecciónpara la investigación

Microscopio electrónico de barrido con haz iónico focalizado - DB550 - CIQTEK Co., Ltd. - para análisis / de inspección / para la investigación
Microscopio electrónico de barrido con haz iónico focalizado - DB550 - CIQTEK Co., Ltd. - para análisis / de inspección / para la investigación
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Características

Tipo
electrónico de barrido con haz iónico focalizado
Aplicaciones técnicas
de inspección, para análisis, para la investigación
Ergonomía
recto
Tipo de cabeza
trinocular
Técnica de observación
de campo claro, in-situ, nanoscopio
Configuración
de pie
Fuente de luz
de iluminación coaxial
Fuente de electrones
de emisión de campo Schottky
Fuente de iones
de galio
Concepción de la lente
con corrector de aberraciones
Tipo de detector
de electronos retrodispersados, in-lens SE, EBSD
Opciones y accesorios
asistido por ordenador, USB, con micromanipulador
Otras características
con cámara digital, de alta resolución, automatizado, de observación, de barrido con presión variable
Resolución espacial

0,9 nm, 1,6 nm, 3 nm

Descripción

CIQTEK DB500 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo con una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras, que se aplica con tecnología “SuperTunnel”, baja aberración y diseño de lente objetivo libre de magnetismo, con bajo voltaje y alta resolución. capacidad que asegura su capacidad analítica a nanoescala. La columna de iones facilita una fuente de iones de metal líquido Ga+ con un haz de iones altamente estable y de alta calidad para garantizar la capacidad de nanofabricación. DB500 está equipado con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas, un mecanismo eléctrico anticontaminación para la lente del objetivo y 24 puertos de expansión, lo que lo convierte en una plataforma integral de nanoanálisis y fabricación con configuraciones integrales y capacidad de expansión.

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