Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo SEM4000X

de inspecciónde laboratoriopara analizar materiales

El SEM4000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) estable, versátil, flexible y eficaz. Alcanza una resolución de 1.9nm@1.0kV, con lo que afronta fácilmente los retos de la obtención de imágenes de alta resolución para diversos tipos de muestras. Puede actualizarse con un modo de desaceleración de ultrahaz para mejorar aún más la resolución de bajo voltaje. El microscopio utiliza tecnología multidetector, con un detector de electrones en columna (UD) capaz de detectar señales SE y BSE al tiempo que proporciona un rendimiento de alta resolución. El detector de electrones montado en la cámara (LD) incorpora un centelleador de cristal y tubos fotomultiplicadores, que ofrecen una mayor sensibilidad y eficiencia, lo que se traduce en imágenes estereoscópicas de excelente calidad. La interfaz gráfica de usuario es de fácil manejo y dispone de funciones de automatización como brillo y contraste automáticos, autoenfoque, estigmador automático y alineación automática, lo que permite capturar rápidamente imágenes de muy alta resolución.