Las cámaras de pruebas ambientales de la serie ET están diseñadas con características sin compromiso incluidas en el sistema para satisfacer las necesidades de su aplicación cambiante de simulación de un amplio rango de condiciones de temperatura, humedad relativa, etc., sin el coste añadido de costosos complementos opcionales. Disponible en varios volúmenes para adaptarse a los diferentes tamaños de las muestras
- Construcción en bloque con secciones de mantenimiento de fácil acceso y un pupitre de control de fácil manejo
- Diseñado para satisfacer una variedad de aplicaciones de prueba en diversos tamaños de muestras de prueba
Características sin compromiso incluidas sin costes adicionales
- Espacio de trabajo iluminado por LED con mirilla de vidrio al vacío de varios paneles y calentadores anti-vaho
- Interiores de acero inoxidable de alta calidad y paneles con recubrimiento de polvo CRCS con estantes duraderos de acero inoxidable y canales de bandejas de altura ajustable
- Goma de silicona de doble capa y cierres y bisagras de aluminio fundido a presión de alta resistencia
- Puertos de acceso a través de la pared a ambos lados con enchufes flexibles para el paso de cables
- Manija de la puerta de fácil acceso cum HMI de acceso frontal de montaje monitor de funcionamiento
Todo lo que necesitas en una cámara de pruebas...
-Puertos de comunicación como RS-232, RS-485, USB, Ethernet y puerto host USB.
-Memoria de usuario de 256 MB incorporada y tarjeta SD de ampliación de hasta 2 GB de memoria para el almacenamiento de datos y programas.
-Captura de tendencias en tiempo real y provisión de almacenamiento en el controlador.
-A petición del Auto Tuning.
-Seguridad de tres niveles para diferentes accesos de usuarios
-Capacidad total de programación hasta 99 programas.
-3 Teclas programables por el usuario con indicación LED para funciones preasignadas.
-Probar el almacenamiento de datos de archivos y carpetas individuales en tiempo real.
-Programación gráfica para una programación más rápida y una vista del programa.
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