Sistema de prueba de laboratorio TRA-200

compactode precisión

SISTEMA DE ANÁLISIS DE LA ESTRUCTURA DE RESISTENCIA TÉRMICA DEL TRA-200/300 LED Adoptar tecnologías patentadas con función de análisis de estructura de alta precisión El Analizador de Estructura de Resistencia Térmica de LED TRA-200/300 está diseñado para medir la resistencia térmica, la resistencia térmica relativa y la temperatura de unión, así como las curvas correspondientes El sistema también puede analizar automáticamente la función de estructura térmica acumulativa y diferencial, lo que es esencial para el análisis y la evaluación de la gestión térmica de los LED. Principales normas de referencia ● EIA/JESD 51-1~14 Método de Medición Térmica de Circuitos Integrados ● MIL-STD-750D Método de prueba para un dispositivo semiconductor ● SJ 20788-2000 Método de prueba de resistencia térmica de diodos semiconductores ● GB / T 4023-1997 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos y corrientes integradas Parte 2: Diodos rectificadores ● QB / T 4057-2010 Requisitos de rendimiento de los diodos emisores de luz para la iluminación general Parámetro Adoptar tecnologías patentadas con función de análisis de estructura de alta precisión El Analizador de Estructura de Resistencia Térmica de LED TRA-200/300 está diseñado para medir la resistencia térmica, la resistencia térmica relativa y la temperatura de unión, así como las curvas correspondientes El sistema también puede analizar automáticamente la función de estructura térmica acumulativa y diferencial, lo que es esencial para el análisis y la evaluación de la gestión térmica de los LED. Principales normas de referencia ● EIA/JESD 51-1~14 Método de Medición Térmica de Circuitos Integrados ● MIL-STD-750D Método de prueba para un dispositivo semiconductor ● SJ 20788-2000 Método de prueba de resistencia térmica de diodos semiconductores ● GB / T 4023-1997 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos y corrientes integradas Parte 2: Diodos rectificadores