El acuerdo CT440 de EXFO le deja rápidamente y prueba exactamente los componentes ópticos pasivos (e.g., MUX/DEMUX, los filtros, los divisores) y los módulos (ROADM, WSS). Cuál es más, la unidad cubre la gama espectral a partir de 1240 a 1680 nanómetro, teniendo en cuenta las medidas sobre la banda llena de las telecomunicaciones. Con la opción del PDL, el CT440 puede medir simultáneamente pérdida de inserción y pérdida dependiente de la polarización.
barrido de la Lleno-banda
El CT440 (modelo de SMF) puede actuar entre 1240 y 1680 nanómetro y es totalmente compatible con la serie del T100S-HP de EXFO de láseres sintonizables. Cuando vario se utiliza TLSs, el CT440 puede cambiar automáticamente entre los lasers para permitir medidas completas inconsútiles de la banda del ‑. La sola conexión al DUT significa que no se requiere ningún interruptor externo.
Medida rápida de la pérdida de inserción
El CT440 ofrece una combinación única de electrónica de alta velocidad y de interferometría óptica. Los cuatro detectores integrados le dejaron miden simultáneamente cuatro canales con un rango dinámico del DB 65 en un solo barrido del laser. Por otra parte, la exactitud de la longitud de onda de ±5 P.M. se alcanza a cualquier velocidad del barrido, tan no hay compromiso entre la velocidad de la medida y la exactitud.
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