Aparato de control de semiconductores

Aparato de control de semiconductores - Farley Laserlab
Aparato de control de semiconductores - Farley Laserlab
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Características

Aplicaciones
de semiconductores

Descripción

El sistema óptico de detección de campo claro y oscuro, desarrollado de forma independiente, se utiliza para detectar los defectos de aspecto de las materias primas semiconductoras, las obleas epitaxiales y las obleas estampadas, en las empresas de fabricación de materias primas y en las empresas de fabricación de obleas de la cadena de la industria de semiconductores. Ventajas del producto: - Aplicable a una gran variedad de obleas Adecuado para obleas de 4-8 pulgadas, sustratos, obleas epitaxiales y obleas estampadas - Puede detectar una gran variedad de defectos Detecta partículas, hoyos, protuberancias, arañazos, manchas, grietas y otros defectos - Alta resolución Resolución del sistema 1-10 μ m - Rápida velocidad de detección Oblea sin patrón: 180 segundos / oblea cuando el número de defectos es inferior a 200

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.